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产品名称:导热系数测试仪

产品型号:DRH-ZD-300

产品报价:

产品特点:导热系数测试仪型号:DRH-ZD-300
(单护热平板法,自动加压,自动测厚规格)
该仪器基于单向稳定导热原理,当试样上、下两面处于不同的稳定温度下,测量通过试样有效传热面积的热流及试样两表面间温差和厚度,计算导热系数。满足了材料检测研究部门对材料导热系数的高精度测试要求。仪器参考标准:GB/T3399《塑料导热系数试验方法,护热平板法》、GB/T3139-2005(纤维增强塑料导热系数试验方

DRH-ZD-300导热系数测试仪的详细资料:

导热系数测试仪型号:DRH-ZD-300 
(单护热平板法,自动加压,自动测厚规格) 
该仪器基于单向稳定导热原理,当试样上、下两面处于不同的稳定温度下,测量通过试样有效传热面积的热流及试样两表面间温差和厚度,计算导热系数。满足了材料检测研究部门对材料导热系数的高精度测试要求。仪器参考标准:GB/T3399《塑料导热系数试验方法,护热平板法》、GB/T3139-2005(纤维增强塑料导热系数试验方法)(玻璃钢导热系数试验方法)、GB/10294-2008(绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 防护热板法),GB/T10801.2-2002(绝热用挤塑聚苯乙烯泡沫塑料(XPS))中对挤塑聚苯乙烯泡沫塑料导热系数测量的要求。主要测试塑料、玻璃、纤维、泡沫、保温材料等。广泛应用在大中院校,科研单位,质检部门和生产厂的材料分析检测。 
导热系数测试仪性能特点: 
1、自动测厚:采用高精度位移传感器测量,并连接计算机自动测厚,减小人为误差。 
2、自动加压系统: 计算机自动加压, 可试验在不同压力下的导热系数, 比人工加压更科学, 更数据化, 重复性更好 
3、测量种类多:除测量硬质板材外,选配公司各种配件,可以测量多种特殊材料。比如:颗粒料、散料、土壤等。 
主要技术指标: 
1、导热系数范围:0.0010~2.000W/mk; 
2、测试精度:≦±3%,重复性±1%; 
3、试样尺寸:150×150mm--300×300×mm; 
4、试件厚度0~50mm试件放入炉体后,在恒定的压力状态下,实时测量厚度。(建议采用25mm厚度). 
4、热面温度范围:室温~100℃,温度分辩率0.01℃,测量精度: 0.05℃; 
5、冷面温度范围:-8℃~60℃ ,温度分辩率0.01℃,带制冷恒温水槽冷却; 
6、计算机控制全自动测试,数据处理,并生成检测报告,可打印输出; 
7、采用高精度位移传感器并连接计算机自动测厚,测量范围0---50mm,分辨率0.01mm; 
8、可自动加压,检测不同压力状态下的导热系数,加压范围0---1000N可调,分辨率0.1N。 
9、冷热板温差:默认值20℃,用户也可以自行设定,常用标准温差: 20℃ 常用温度差范围15-25℃, 
10、电压:220V,50HZ. 
仪器配置: 
1、DRH-ZD-300全自动测试主机壹台, 
2、软件壹套, 
3、高精度恒温水槽壹台, 
4、通讯接口及数据线壹套, 
5、配用电脑、绝热材料导热系数参比板以及提供校准证书另计价。

 

 

 

 

半导体粉末电阻率测试仪 型号:ST2722-SZ

产品特点 
    ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。 
    四探针法测试台设计符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范,参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 
2.1基本功能和依据标准: 
    ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四探针法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合,测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。四探针法符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 
2.2仪器成套组成:整套仪器有ST2722电阻率测试仪主机和SZ或SD型粉末压片机两大部分以及配套的电脑软件组成。 
     主机是整个系统电气控制显示主要部分,主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力、厚度显示单元、与PC机通讯单元等组成。 
压片机压片机由粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。是粉末压片成型装置,用来装夹粉末(含高分子粉末和金属粉末等),进行压力施加(压片)和自动压力检测、高度检测。(以下简称压片机)。 
ST2722-SZ四探针法设计符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范,参照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 
2)同步式连续多点测试,高效快捷、准确度高、重复性好。一次装料,电阻率、压强、高度同步式连续多点测试,可快速绘制粉末“电阻率-压强”曲线。行业粉末电阻率标准测试方式。可避免传统异步式的先压片脱模后再四探针测试的缺项:误差大,重复性差,直至散块不能成形无法测试的问题。 
3)带智能化电脑软件.可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。 
4)USB通讯接口,通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式,这些端口一般电脑都难配了! 
5)8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。 
6)可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定,所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。 
7)可拓展功能:压片机可独立当普通压片机用,电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪。 
2.6适用范围: 
本仪器具有操作简便高效、测量精度高、稳定性好、重复性好,一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点! 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。 
  

三、技术参数 
3.1.电阻率测量范围、分辨率 
电 阻 率:10.0×10-6~ k×200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6~ 0.1×103Ω-cm,k=1~10 
3.2.电阻率量程划分及误差等级 
满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00 
量程KΩ-cmΩ-cmmΩ-cm 
基本误差±2%读数±4字±1.5%读数±4字±0.5%读数 
±2字±0.5%读数 
±4字 

3.3.数字电压表: 
⑴量程:10mV ~ 100 mV,自动 
⑵显示: 4位有效数字,大显示999.9,小数点、单位自动显示 
3.4.数控恒流源8档宽量程 
电流输出:系统自动步进调整,直流电流0.1μA,1.0μA,10μA,100μA,1.0mA,10mA,100mA,1.0A共8档可调。 
3.5.粉末测试台部分参数: 
(1)试样成份:成份不限,但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。 
(2)试样粒度:推荐以40目以下—60目以上(标准筛网),一般其他粒度也可! 
(3)料杯容积:截面:S=1.0cm2 
              高度:0~20mm可调, 
(4)自动高度测试单元,测量误差:±0.02mm。 
    四位有效显示数00.00~20.00mm,分别率±0.02mm。 
(5)自动压强测试单元, 
标准压强:P0=4Mpa±0.05Mpa。 
     压强量程:20Mpa, P=0~20 Mpa可调。 
四位有效显示数00.00~20.00MPa,分别率±0.01 MPa。 
(6)、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。 
3.6.配套PC软件 
1 USB高速通讯接口。 
2带数据库方式存储数据,便于历史查询和第三方软件拓展共享。 
3自动生成excel形式的图表结合的测试报告,包含电阻率-压强曲线图形和详细测试数据。 
4带测试报告预览、编辑、打印功能。 
3.7.测试仪外形与重量 
前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm 
重         量=10Kg 
3.8.电源: 
功 耗:< 10W 
输入:220V±10%   50Hz 
3.9.本仪器工作条件为: 
温   度:   0-40℃ 
相对湿度:   ≥60% 
工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源。

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