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光耦参数测试仪 JFY3010A
点击次数：261 更新时间：2017-07-13

光耦参数测试仪型号：JFY3010A

JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍
※概述:
JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用 方便,适用电子产品 或电子元件供应商来料检测。
※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦
※             测量参数:

参数指标表:

参数項

测试参数

测试条件设置

输入正向压降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐压(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

传输比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

饱和压降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

输出漏电流(Iceo)0-1mAVCE=20V
输入反向漏电流(IR)0-1mAVR=4V
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